HORIBA RS XploRA™ PLUS 全自动拉曼光谱仪

产品详情：

HORIBA XploRA™ PLUS

一款科研级全自动显微共焦拉曼光谱仪，以全共焦高空间分辨、SWIFT 高速成像、多激光与光栅自动切换为核心优势，适配多用户、多场景的微区成分与结构分析。

核心性能与设计亮点

1. 光学与光谱系统

• 全共焦设计，XY 空间分辨率达 0.5 μm，深度分辨优，适配亚微米样品微区分析。

• 内置 4 块光栅（600/1200/1800/2400 g/mm）自动切换，光谱范围 75–4000 cm⁻¹，兼顾宽谱与高分辨需求HORIBA。

• 标配多激光（532/638/785 nm，可定制）自动切换，有效抑制荧光，适配有机 / 无机 / 高分子等不同样品HORIBA。

• 可选 EMCCD 检测器，提升弱信号检测灵敏度，支持低浓度与低散射截面样品分析。

  
  

2. 高速成像与自动化

• 独有 SWIFT™技术，拉曼成像速度较传统快约 10 倍，兼顾成像效率与共焦质量。

• OneClick 一键分析 + NIST 可追溯自动校准，非专业人员也能快速获取可靠结果。

• 支持 ParticleFinder 自动颗粒定位与 MultiWell 高通量筛选，适配工业质检与批量样品分析。

• 全光学显微镜配置（明 / 暗视野、微分干涉、偏振等），便于样品定位与形貌关联。

  
  

3. 拓展能力

• 可与 AFM 耦合实现 Raman‑AFM 与 TERS（针尖增强拉曼），空间分辨率达纳米级，适配纳米材料研究。

• 模块化设计，可根据需求扩展低温 / 高温台、变温池、电化学池等附件。

  
  

核心参数速览

参数项	典型指标
光谱范围	75–4000 cm⁻¹
光栅配置	4 块自动切换（600/1200/1800/2400 g/mm）
空间分辨率	共焦 XY 方向 0.5 μm
激发波长	532/638/785 nm（可定制）
成像速度	SWIFT™技术，约 10 倍于传统成像
检测器	全光谱 CCD/EMCCD（可选）
自动化	一键分析、自动校准、激光 / 光栅自动切换

适用场景

• 科研领域：纳米材料、半导体、高分子、生物医药、地质矿物、文物考古等的结构 / 成分 / 相变研究。

• 工业质检：电子材料杂质检测、制药工艺质控、高分子材料老化分析、食品安全快速筛查。

• 刑侦与艺术：微量物证鉴定、颜料层成分分析、伪造品鉴别。

  
  

关键注意事项

1. 荧光强样品优先选择 785 nm 近红外激光，或搭配 EMCCD 提升信噪比。

2. 高分辨测量时选用 2400 g/mm 光栅，宽谱测量可选 600 g/mm 光栅，平衡分辨率与采集效率。

3. 耦合 AFM/TERS 时需注意环境振动与光学对准，确保纳米级测量精度。