Xenocs小角X射线散射仪Nano-i

Xenocs小角X射线散射仪Nano-inXider

核心参数

仪器类型：

综合

测量范围：

250nm(SiO2标准纳米粒子，非2π/q_min计算值)

光束尺寸：

30μm

样品量：

极低

测试时间：

1~30min

来源：赛诺普（苏州）科学仪器有限公司

联系电话：400-069-8972

Nano-inXider是针对纳米材料表征提出的综合解决方案。受益于Xeuss 独特的专利技术，Nano-inXider具有卓越的性能和简单易用的特点，其智能化、集成化的设计使得Nano-inXider可以适用于任何实验室环境。

主要特点：

-       全自动工作流程

-       无Beamstop数据采集

-       同时获得纳米结构信息和原子尺度信息

-       占地面积小易于集成

-    Virtual Detector模式得到更大的WAXS探测范围

可获得的信息：

-       粒子 / 孔洞形状

-       尺寸 / 分布

-       粒子 / 孔洞取向

-       粒子相互作用

-       粒子 / 基质界面

-       分形 / 多级尺度

-       自组装 / 长周期

-       比表面积

可研究的领域：

-       纳米颗粒及胶体聚合物

-       药物研发及配方

-       化妆品及护理产品

-       石油及天然气

-       食品科学

-       可再生能源

-   无机材料