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Bruker D8 ADVANCE x射

信息编号 : 1537 发布时间 : 2026-5-3 07:16 该信息长期有效 浏览 : 3
  • 信息类型 : 供应信息
  • 区域名称 : 德国
  • 类别从属 : 检测仪器.设备仪表.实验耗材 - 流体检测仪器
  • 付款方式 : 电汇
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  • 数量 : 1
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信息详情

Bruker D8 ADVANCE x射线衍射仪

Bruker/布鲁克价格区间150万-200万
仪器种类单晶衍射仪应用领域综合

Bruker D8 ADVANCE x射线衍射仪

D8 ADVANCE 规格:

功能

规格

优势

TRIO 光路和TWIN光路

软件按钮切换:

马达驱动发散狭缝(BB几何)

高强度Ka1,2平行光束

高分辨率Ka1平行光束

可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换,无需人工干预

是所有类型的样品分析的理想之选,包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)

动态光束优化

动态同步:

马达驱动发散狭缝

马达驱动防散射屏

可变探测器窗口

2Ɵ角度范围:小于1度至>大于150度

数据几乎不受空气、仪器和样品架散射的影响

大大提高了检测下限,可定量分析少量晶相和非晶相

在较小的2θ角度,可对粘土、药物、沸石、多孔材料及其他材料进行精确研究

LYNXEYE XE-T

能量分辨率:<380 eV @ 8 KeV

检测模式:0D、1D、2D

波长:Cr、Co、Cu、Mo和Ag


无需Kß滤波片和二级单色器

铜辐射即可100%过滤铁荧光

速度比传统探测器系统快450倍

BRAGG 2D模式:使用发散的初级线束收集2D数据

探测器保证:交货时无坏道

EIGER2 R

Dectris 公司开发的基于混合光子计数技术的新一代探测器,支持多种模式(0D / 1D / 2D)

在步进扫描、连续扫描和高级扫描模式中无缝集成0D、1D和2D检测

符合人体工程学的免对准探测器旋转功能,可优化γ或2Ɵ角度范围

使用完整的探测器视野、免工具全景衍射光束光学系统

连续可变的探测器位置,以平衡角度范围和分辨率

旋转光管

在线焦斑和点焦斑应用之间轻松快捷地进行免对准切换

无需断开电缆或水管,无需拆卸管道

DAVINCI设计:全自动检测和配置聚焦方向

自动进样器

FLIPSTICK:9个样品

AUTOCHANGER:90个样品

在反射和透射几何中运行

D8 测角仪

带独立步进电机和光学编码器的双圆测角仪

布鲁克准直保证,确保了准确性和精确度

免维护的驱动机构/齿轮装置,终身润滑

非环境条件

温度:从~85K到~2500K

压力:10-⁴mbar至100 bar

湿度:5%至95%

在环境和非环境条件下进行研究

DIFFRAC设计助您轻松更换样品台


基于D8衍射仪系列平台的D8 ADVANCE,是所有X射线粉末衍射和散射应用的理想之选,如:

  • 典型的X射线粉末衍射(XRD)

  • 对分布函数(PDF)分析

  • 小角X射线散射(SAXS)和广角X射线散射(WAXS)

由于具有出色的适应能力,仅使用D8 ADVANCE,您就可对所有类型的样品进行测量:从液体到粉末、从薄膜到固体块状物。

无论是新手用户还是专家用户,都可简单快捷、不出错地对配置进行更改。这都是通过布鲁克的DAVINCI设计实现的:配置仪器时,免工具、免准直,同时还受到自动化的实时组件识别与验证的支持。


应用范围:

相鉴定:材料可靠性鉴别(PMI)最为常见,这是因为其对原子结构十分灵敏,而这无法通过元素分析技术实现。

定量相分析:方法包括EVA软件半定量分析、DQUANT软件面积法分析和DIFFRACTOPAS软件全谱拟合分析法

非环境 XRD:可以在DIFFRAC.WIZARD中配置温度曲线并将其与测量同步,然后可以在DIFFRAC.EVA中显示结果

织构分析:在DIFFRAC.TEXTURE软件中,使用球谐函数和组分分析方法,生成极图、取向分布函数(0DF)和体积定量分析。

残余应力分析:在DIFFRAC.LEPTOS中分析钢部件的残余应力:通过sin2psi方法,使用Cr辐射测量得到。

X射线反射法(XRR):在DIFFRAC.LEPTOS中,对多层样品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度进行XRR分析。

小角X射线散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中,对EIGER2R500K通过2D模式收集的NIST标样SRM 80119nm金纳米颗粒进行粒度分析。



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