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CH-12.7-STSX 数显薄膜薄片测厚仪
CH-12.7-STSX数显薄膜薄片测厚仪千分数显塑料簿膜薄片台式测厚仪0.001mm0mm~12.7mm ≤0.005mm适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(最大测量深度为80mm)GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
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