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标题: SEM 扫描电子显微镜Nova NanoSem450简介 [打印本页]
作者: guolvfenlitech6 时间: 5 小时前
标题: SEM 扫描电子显微镜Nova NanoSem450简介
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2026-04-29 环球过滤分离技术网 goulvfenlitech6
主要性能和指标：
1、 电子光学系统：
高稳定度肖特基场发射电子枪；放大倍率范围：35-1000000倍，根据加速电压和工作距离的改变，放大位数自动校准。
2、 电子束分辨率
1）高真空模式
（1）1.0nm@15 kV (二次电子像分辨率)
（2）1.4nm@1 kV (二次电子像分辨率，非减速模式)，
（3）3.5nm@0.1 kV (背散射电子像分辨率)
2）低真空模式 ：
1.5nm@10 kV (二次电子像分辨率)；1.8nm@3 kV (二次电子像分辨率)
3）电子束其他参数
（1）着陆电压：50V ~ 30 kV
（2）电子束流：0.6pA ~ 200 nA，连续可调。
（3）最大水平视场宽度：4.0mm在5mm工作距离。
3、能谱技术指标
探测器：分析型SDD硅漂移电制冷探测器，晶体面积80 mm2 ,活区面积65mm2，高分子超薄窗设计。
封闭式真空系统，无需借助SEM抽放真空。
能量分辨率：Mn Ka保证优于127eV（@计数率130,000cps）； F Ka 保证优于64eV（@计数率130,000cps）；C Ka 保证优于56eV（@计数率130,000cps）；符合ISO 15632:2012标准。元素分析范围：Be4～Cf98。
主要功能和服务范围：
用于细菌或真菌表面形貌的高分辨率成像；也可用于非磁性无机或有机微纳米材料的形貌表征及微区元素分析。
生产厂家：FEI
设备型号：Nova NanoSEM 450
主要技术指标：
1.电镜的分辨率：2 nm 放大倍数：7 ~ 500,000
2.扫描电镜分辨率：30kV高真空、低真空: 2.0nm；3kV低真空: 3.5nm
3.30kV透射扫描（STEM）分辨率：1.5nm；环境真空模式下30kV时，分辨率2.0nm
4.能谱元素分析范围：5B~92U
5.EBSD空间分辨率(Al, 20kV)：0.1 μm FEG SEM；角度分辨率优于0.5度
6.相鉴定功能：包括七大晶系，具有最大的相鉴定数据库
应用范围：
Nova NanoSEM 450 场发射扫描电子显微镜是表面分析重要的表征工具之一，具有灵活先进的自动化操作系统。具有三种成像真空模式--高真空模式、低真空模式和ESEMTM模式，可以观察分析各种类型的样品。它可以对处理过的样品和未处理的原始样品提供微米、纳米级表面特征的图像和微观分析数据。在生物学、地质、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、考古以及其他领域中得到日益广泛的应用。本仪器还配有INCA X-射线能谱仪和EBSD背散射电子衍射系统，元素分析范围为4Be~92U，同时可进行晶体结构和取向分析。
样品要求：
各种类型的尺寸小于5cm×5cm×5cm（尺寸毫米级为宜）的干燥固体样品
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